1.2MV電界放出透過電子顕微鏡上のマッハツェンダー型電子干渉計の開発

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Microscopy (Oxf).2020 Jul;dfaa040. doi: 10.1093/jmicro/dfaa040.Epub 2020-07-15.

1.2MV電界放出透過電子顕微鏡上のマッハツェンダー型電子干渉計の開発

Development of a Mach-Zehnder type electron interferometer on a 1.2-MV field-emission transmission electron microscope.

Tetsuya Akashi
Yoshio Takahashi
Ken Harada

PMID: 32667646 DOI: 10.1093/jmicro/dfaa040.

抄録

振幅分割型マッハツェンダー型電子干渉計(MZ-EI)を開発した。開発したMZ-EIは、振幅分割ビームスプリッターに対応する単結晶、ミラーに対応するレンズ、対物開口部から構成されている。干渉縞の間隔や方位角は、単結晶の材料や配向、対物レンズの開口部で選択された回折スポットによって制御することができます。1.2-MVの電界放出型透過電子顕微鏡を用いてMZ-EIを構築し、その性能を検証した。その結果、様々な間隔と方位角で干渉縞が形成されることを確認し、振幅分割型電子干渉計としての実用性を実証した。

We have developed an amplitude-division type Mach-Zehnder electron interferometer (MZ-EI). The developed MZ-EI is composed of single crystals corresponding to amplitude-division beam splitters, lenses corresponding to mirrors, and an objective aperture. The spacings and azimuth angles of interference fringes can be controlled by single-crystal materials and their orientations and by diffraction spots selected by the objective aperture. We built the MZ-EI on a 1.2-MV field-emission transmission electron microscope and tested its performance. Results showed that interference fringes were created for various spacings and azimuth angles, which demonstrates the practicability of the MZ-EI as an amplitude-division type electron interferometer.